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韩国浦项科技大学(POSTECH)材料科学与工程系Si-Young Choi 教授讲座通知
发布人:杨瑜蓉  发布时间:2026-07-28   浏览次数:10

应土木工程学院路晓艳教授邀请,韩国浦项科技大学(Pohang University of Science and TechnologyPOSTECH)材料科学与工程系 Si-Young Choi 教授将于2026728日来校开展学术交流,并作场学术讲座和一次学术讨论。欢迎相关专业师生参加。

 

报告与讨论安排

讲座一

Aberration-Corrected STEM and EELS for Atomic-Scale Analysis of Functional Materials

日期 / 地点

2026728 14:30-16:00 / 土木科研楼316

讲座二

In-situ TEM and DPC-STEM for Dynamic Analysis and Electric/Magnetic Field Mapping

日期 / 地点

2026728 16:00-17:30 / 土木科研楼316

讨论

Atomic-Scale Defects and Interfaces in Ferroelectric and Multiferroic Oxides

日期 / 地点

2026728日 下午17:30-18:00 / 土木科研楼316

 


Si-Young Choi 教授简介

 

Prof. Si-Young Choi

Professor, Department of Materials Science and Engineering, POSTECH

JA Professor, Department of Semiconductor Engineering · Center for Van der Waals Quantum Solids, Institute for Basic Science

Si-Young Choi,韩国浦项科技大学(POSTECH)材料科学与工程系教授、半导体工程系 JA Professor,并在韩国基础科学研究院(IBS)范德瓦尔斯量子固体中心开展研究。他长期从事先进电子显微学、功能氧化物及低维量子材料的原子尺度结构研究。

他于1999年获韩国釜山国立大学陶瓷工程学士学位,2000年和2004年先后获韩国科学技术院(KAIST)材料科学与工程硕士、博士学位。此后在日本东京大学和英国牛津大学从事博士后研究,并曾任日本学术振兴会(JSPS)研究员。2007年至2017年,他在韩国材料科学研究院(KIMS)先后担任高级研究员、首席研究员及材料建模与表征部门负责人;2017年加入 POSTECH2021年晋升教授,2023年起兼任半导体工程系 JA Professor

他的研究方向包括像差校正扫描透射电子显微镜(STEM)与电子能量损失谱(EELS)的原子尺度分析、基于差分相位衬度 STEM 的电场和磁场表征、原位 TEM 动态分析及多功能原位表征技术;研究对象涵盖铁电/压电氧化物、多铁性氧化物、锂离子电池正极材料、磁性氧化物,以及 h-BNgrapheneWTe₂MoTe₂ MoS₂ 等原子级二维材料。其代表性研究涉及二维半导体异质结构、铁电薄膜、氧化物界面、金属-绝缘体相变和原子尺度缺陷解析,相关成果发表于 Nature MaterialsNature NanotechnologyNature ElectronicsScienceNature PhysicsAdvanced Materials 等期刊。根据20254月版履历,其论文目录收录学术论文220余篇。

他曾获国际再结晶与晶粒生长会议杰出青年科学家奖、韩国材料科学研究院优秀论文奖、韩国科学技术团体联合会优秀论文奖及 Nano Korea 创新研究奖等荣誉。